該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

HT-300D方塊電阻測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表

機采用世界領先的先進電路設計，所測數值更精、更快、更準 2．屏幕采用液晶顯示 3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化

四探針法粉體粉末電阻率測試儀 wi126416

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