芯片高低溫老化測試箱，也稱為高低溫老化測試箱，高低溫試驗箱，高低溫試驗設備，可程式高低溫測試箱。

適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗

主要適用于航天、軍工、艦船、電工、電子、醫療器械等整機及零部件的高低溫沖擊試驗。供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應的氣候突變試驗，以便對試品或試品試驗行為作出評價。

QJ211B雙面膠高低溫測試設備適用于整個材料中進行30KN以內帶有高、低溫度的拉伸、剝離、撕裂、壓縮、彎曲、剪切、刺破、低周疲勞等項目的力學性能試驗。

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1.1 空間尺寸：D5150m×W4150m×H2575m (外型尺寸) D5000mm×W4000mm×H2500mm (內空尺寸) 1.2 溫度范圍：常溫到85℃ 1.3 溫度波動：≤±1℃；

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